Principe : La microscopie à force atomique (ou AFM pour Atomic Force Microscopy en anglais) est une technique de microscopie à sonde locale qui permet d’observer le relief d’une surface. Pour ceci une pointe très fine supportée par un microlevier balaye l’échantillon. La pointe très proche de la surface subit de la part de celle-ci une force attractive ou répulsive selon la distance pointe-surface mesurée par la déviation du levier.
Les microscopes à force atomique peuvent être utilisés selon différents modes : le mode contact, le mode contact intermittent et le mode non contact.
Dans le mode contact, la déflexion du micro levier est maintenue constante par une boucle d´asservissement pendant que l’échantillon est déplacé en X, Y et Z. Le levier muni de la pointe détectrice appuie sur l’échantillon en analyse. Une force répulsive entre la surface et la pointe se crée car il y a répulsion des électrons de l’échantillon et de la pointe. Dans ce cas, l’interaction faible entre l’échantillon et la pointe est maintenue constante en changeant la hauteur de l’échantillon dans l’appareil. La variation de la hauteur donne la hauteur de la surface à l’endroit étudié. Une image topographique tridimensionnelle peut ainsi être obtenue.